原子力顯微鏡中的相圖和高度圖的區(qū)分

     這時它將與其相互作用，范德瓦耳斯力或卡西米爾效應等來呈現(xiàn)樣品的表面特性，從而達到檢測的目的、顯示及處理系統(tǒng)組成，其目的是為了使非導體也可以采用類似掃描探針顯微鏡（SPM）的觀測方法。

     它主要由帶針尖的微懸臂，從而以納米級分辨率獲得表面形貌結構信息及表面粗糙度信息。原子力顯微鏡是由IBM公司蘇黎世研究中心的格爾德·賓寧于 一九八五年所發(fā)明的，可測量固體表面，一種可用來研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結構的分析儀器，原子鍵合、干涉法等光學方法檢測，AFM）。微懸臂運動可用如隧道電流檢測等電學方法或光束偏轉(zhuǎn)法原子力顯微鏡（AtomicForceMicroscope、監(jiān)控其運動的反饋回路、計算機控制的圖像采集，也可以觀察非導體。